资讯丨原子力显微镜探针技术项目斩获中国发明协会“发明创业奖项目奖”

原子力显微镜(Atomic Force Microscope)利用纳米探针扫描样品，是唯一在大气环境下实现纳米尺度的精密仪器，是不可替代测试仪器。作为原子力显微镜的核心部件-原子力显微镜探针，由针尖和悬臂梁构成。普通的原子力显微镜探针的针尖只有固定的角度，在扫描的过程中难以调整角度，给测试造成了困难。

       我们根据比萨斜塔倾斜原理，发明了在针尖底部注入氦离子实现硅衬底隆起造成针尖倾斜的制造工艺，能够在0-60度之间调整通常垂直于悬臂梁的针尖的角度,提升扫描过程进入高深宽比沟槽以及未来可能用于侧壁的扫描[ZL202010935741],[PCT/CN2020/113923]该发明技术得到产业界和学术界的一致认可。

公司创始人胡欢博士，长期致力于微纳制造和特种原子力显微镜（AFM）探针的研发和应用，积累了丰富的将微纳制造转换为技术的经验。申请了21项目美国专利（12项授权）和6项中国专利。目前公司依托浙江大学海宁国际校区强大的科研和研发能力，与中科院、中国科学技术大学、东华大学、中科院等高校院所建立了深入合作。本公司致力原子力显微镜探针技术的革新，将微纳制造、3D打印以及各种化学生物表面修饰技术广泛的应用到原子力显微镜探针的研发中，致力与将纳米球形探针打造成生物测试以及摩擦学等界面研究领域的标准探针。